光源在机器视觉系统中是不可或缺的一部分，光源的选择在机器视觉缺陷检测中至关重要。针对不同类型的外观缺陷检测会有不同的光源方案，比如针对反光且外形不规则的物体，可使用多角度多光谱光源；针对大面积大视野的样品检测，条形光源和背光源是首选光源。选择合适的光源才能更高效地面对不同缺陷的需求。接下来就跟着四元数数控一起来了解下不同类型的光源对外观缺陷检测的影响


1）交叉线形光源
在划痕类的缺陷检测中，如果使用传统的线形光源，只能检测出“横向缺陷”，而“纵向缺陷”则难以被发现。为了让“纵向缺陷”也无处遁逃，沃德普推出的交叉线形光源。它可利用特殊的光学设计，使两侧的光线呈一定角度汇集到光源中间位置，凸显纵向缺陷，通过降低背景亮度来提升缺陷的对比度。


2）平面无影光源
平面无影光源能提供高均匀度的漫射照明，可以消除产品表面不平整形成的干扰，成像效果与“圆顶+同轴光源组合”类似，且相比于组合光源而言，更节省空间。
在检测表面不平整的物体时，如塑料等材质柔软的包装袋表面，推荐使用平面无影光源。


3）平面条纹光源
平面条纹光源使用平面条纹式照明，通过反射的光线相互干涉而形成明暗相间的干涉直条纹，当检测物体表面有凹凸不平时，由于光程变化使得部分直条纹产生形变，以此来检测元件表面的凹凸点及细小缺陷问题。平面条纹光源可很好地弥补同轴光源难以检测的凹凸点及细小缺陷不明显的短板，适用于反光物体、膜材、五金件、玻璃上的凹凸点及细小缺陷的检测。
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